JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY

Informazioni generali
	Titolo
	
					JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
				
	Cris ID
	
					journal24798
				
	Codice ANCE
	
					E091568
				
	Nazione
	
					JP
				
	ISSN
	
					0022-0744
				
	Lingua
	
					English:(Japanese)
				
	Tipo
	
Rivista

	Editore
	
					Oxford: Oxford University Press

Tokyo: Japanese Society of Electron Microscopy
				
	Anno di inizio
	
					1953
				
	Anno di fine
	
					2012
				
	Policy dell'editore per PRE-PRINT
	
					can
				
	Restrizioni dell'editore per PRE-PRINT
	
					can
				
	Policy dell'editore per POST-PRINT
	
					restricted
				
	Restrizioni dell'editore per POST-PRINT
	
					restricted
				
	Policy dell'editore per PDF
	
					restricted
				
	Restrizioni dell'editore per PDF
	
					restricted
				
	Presente in DOAJ
	
					false
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY > Dettaglio
